Pomona 5254 24-pin SOIC 測試夾

這款 Pomona 5254 24-pin SOIC 測試夾，專為 SOIC 及 SOJ 表面黏著積體電路設計，適用於電路內測試。它確保所有晶片引腳的穩定連接，並支援免持測試操作。

• 上層接點設計： 採用 .025 英吋方形引腳，間距為 .100 英吋，適合搭配方形引腳插座、繞線或跳線使用。
• 鍍金下層接點： 下層接點經過鍍金處理，有助於建立穩定且低雜訊的連接。
• 防短路隔離： 接點之間設有模塑隔離，可在帶電電路板上進行連接，避免意外短路至相鄰晶片引腳。
• 廣泛相容性： 適用於具有海鷗翼（gull wing）或「J」型引腳的表面黏著 SOIC 和 SOJ 晶片。

此測試夾適用於電子產品開發、故障排除、品質檢測等需要對 SOIC 和 SOJ 晶片進行電路內功能驗證的場景。

本測試夾適用於晶片本體寬度介於 .150 英吋至 .350 英吋的 SOIC 和 SOJ 封裝。選購時請確認晶片引腳數量與封裝尺寸是否符合。